11月25-27日，由深圳市龍華區(qū)科技創(chuàng)新局特別支持，國家半導體照明工程研發(fā)及產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟（CSA）、第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟（CASA）主辦，深圳第三代半導體研究院與北京麥肯橋新材料生產(chǎn)力促進中心有限公司共同承辦的第十六屆中國國際半導體照明論壇（SSLCHINA 2019）暨2019國際第三代半導體論壇（IFWS 2019）在深圳會展中心召開。 

2019年11月26日上午，“可靠性與熱管理技術(shù)” 分會如期召開。本屆分會由山西中科潞安紫外光電科技有限公司協(xié)辦。新加坡南洋理工大學副教授DU Hejun，華中科技大學能源與動力工程學院院長、中歐清潔與可再生能源學院中方院長羅小兵，北京工業(yè)大學教授郭偉玲，德國達姆施塔特工業(yè)大學研究助理Ferdinand KEIL，中國科學院半導體研究所馬占紅，香港科技大學趙惠珊，半導體照明聯(lián)合創(chuàng)新國家重點實驗室(常州基地)研發(fā)工程師陳威等來自中外的強勢力量聯(lián)袂帶來精彩報告。

 德國達姆施塔特工業(yè)大學研究助理Ferdinand KEIL帶來了題為“加速測試條件下高品質(zhì)低成本的LED電源壽命對比性研究”的主題報告，介紹了一項關(guān)于高端LED驅(qū)動和低成本LED驅(qū)動的對比研究。

研究采用了多種加速測試的方法確定器件的壽命，其中包括溫度、濕度、偏差測試（THB）等。一些測試中重要的參數(shù)都會被記錄下來。同時失效分析和失效模式都會跟實驗記錄做對比。比較常見的失效原因是電腐蝕，其一般常出現(xiàn)在低成本器件中，因為通常這些設備都缺乏有效的電路板組裝清理工藝。同時研究也發(fā)現(xiàn)了金屬薄膜電容對于高溫高濕都非常敏感，這些器件通常都是由于采用了塑料封裝。

實驗結(jié)果表明盡管以上兩種LED驅(qū)動在設計、產(chǎn)品質(zhì)量和失效模式都不相同，但是在THB測試環(huán)節(jié)，其兩種LED的驅(qū)動失效的壽命時間并沒有很大的區(qū)別。

  

（內(nèi)容根據(jù)現(xiàn)場資料整理，如有出入敬請諒解）