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系統(tǒng)概述：
浪涌電流測(cè)試儀，是二極管等相關(guān)半導(dǎo)體器件測(cè)試的重要檢測(cè)設(shè)備，浪涌電流是指電源接通瞬間或是在電路出現(xiàn)異常情況下產(chǎn)生的遠(yuǎn)大于穩(wěn)態(tài)電流的峰值電流或過(guò)載電流。DBC-102型浪涌電流試驗(yàn)臺(tái)的測(cè)試方法符合JB/T7626-2013中的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。本系統(tǒng)通過(guò)電容放電產(chǎn)生電流波，結(jié)合上位機(jī)測(cè)試軟件，再通過(guò)調(diào)節(jié)不同的電感值來(lái)得到需要的電流脈寬，最后輸出測(cè)試要求的電流值，包含浪涌電流測(cè)試單元，阻斷電壓?jiǎn)卧?，阻斷漏電流單元和?jì)算機(jī)控制單元，計(jì)算機(jī)控制單元是該設(shè)備的中心控制單元，設(shè)備的所有工作程序，工作時(shí)序，開(kāi)關(guān)的動(dòng)作狀態(tài)，數(shù)據(jù)的采集等均由計(jì)算機(jī)完成。計(jì)算機(jī)記錄測(cè)試結(jié)果，并可將測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)化為EXCEL文件進(jìn)行處理，整體采用輪式機(jī)柜集成測(cè)試，具有簡(jiǎn)潔的人機(jī)交互界面（計(jì)算機(jī)）和良好的保護(hù)措施，操作簡(jiǎn)單，移動(dòng)方便等特點(diǎn)。
系統(tǒng)單元及參數(shù)指標(biāo)
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浪涌測(cè)試單元IFSM
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通態(tài)不重復(fù)浪涌電流范圍：30～2000A（可選到20000A），分辨率1A, 精度＜2%±1（可定制范圍） |
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浪涌電流底寬：10ms正弦半波，偏差小于±0.2ms（可選1mS.2mS.8.3mS等）,單選 |
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重復(fù)浪涌電流時(shí)間： 2S～10S（可定制范圍） |
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浪涌電流重復(fù)次數(shù)：2～1000 次，可設(shè)定(可定制范圍) |
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浪涌電流下的壓降測(cè)試：壓降測(cè)試范圍 0.01-100V 分辨率 0.001V,精度＜2%±0.01 |
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浪涌波形和壓降波形顯示和保存：僅對(duì)正弦波，可選方波 |
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10uS方波電流范圍：100-3000A，分辨率1A,精度＜3%±1（可選5000A） 0.1-1 mS：1000A 1-10 mS：500A |
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阻斷參數(shù)測(cè)試單元 |
反向電壓：100V～1200V 可調(diào) ，分辨率 1V,精度＜2%±1 |
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反向電壓輸出方式：DC 直流 |
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阻斷漏電流：0.001～10mA，分辨率 0.001mA,精度滿量程的±5% |
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測(cè)試方式：自動(dòng)測(cè)試 |
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適合封裝：TO-220、TO-247、TO-3P（其它封裝可更換測(cè)試夾具工裝或可用連線方式），手動(dòng)安裝測(cè)試器件。 |
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熱敏電壓測(cè)試
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測(cè)試電流范圍：5-100mA，持續(xù)給定，可以在最短時(shí)間內(nèi)判斷結(jié)溫變化 |
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使用方式：?jiǎn)未卫擞壳昂鬁y(cè)試，重復(fù)浪涌測(cè)試，判斷結(jié)溫恢復(fù)觸發(fā)下一次測(cè)試。 |
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MOS 器件正反向測(cè)試
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正向測(cè)試：觸發(fā)電壓：5-25V 可設(shè)定 |
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反向測(cè)試：觸發(fā)電壓：0→-10V 可設(shè)定 |
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加熱功能（可選功能） |
顯示溫度：0-180℃ |
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控溫范圍：90-180℃，三檔可選（90-125℃，125-150℃，150-180℃） |
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計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng) |
設(shè)備的所有工作程序，工作時(shí)序，開(kāi)關(guān)的動(dòng)作狀態(tài)，數(shù)據(jù)的采集等均由計(jì)算機(jī)完成。工業(yè)控制機(jī)，具有抗電磁干擾能力強(qiáng)，排風(fēng)量大等特點(diǎn)。 |
軟件界面：
10uS方波輸出波形圖
