2018年6月6-7日，由國(guó)家半導(dǎo)體照明工程研發(fā)及產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟（CSA）/第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟（CASA）共同組織召開(kāi)的潛在失效模式與后果分析（FMEA）、汽車(chē)電子委員會(huì)資格測(cè)試(AEC-Q)培訓(xùn)會(huì)在廣州召開(kāi)。
培訓(xùn)現(xiàn)場(chǎng)
來(lái)自洲明科技、寧波升譜、晶科電子、鴻利智匯、中國(guó)科學(xué)院微電子研究所、中電科五十五所、廈門(mén)芯光潤(rùn)澤、深圳基本半導(dǎo)體、北京工業(yè)大學(xué)、天津工業(yè)大學(xué)、上海共晶、廣東金鑒檢測(cè)等單位20余人參加了培訓(xùn)。
FMEA、AEC-Q課程分別由英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)（BSI）高級(jí)講師王繼武老師、工信部五所許少輝高工講解。課程內(nèi)容深入淺出、案例豐富、易于理解、互動(dòng)性強(qiáng)。
很多學(xué)員反饋此次培訓(xùn)及時(shí)、有效，對(duì)工作指導(dǎo)性強(qiáng)。
